随着大模型算力需求爆发，GPU 集群的互连带宽与功耗成为瓶颈，光通信正加速从边缘走入数据中心核心。而光信号的传输，依赖直径仅 2 至 4 毫米的光纤连接器，其内部极细极深的微孔，长期是行业公认的测量难题 。

用光代替测针：非接触式光学测量方案

非接触式光学测量——用光代替测针，不和工件发生任何物理接触。光学测量不受测针尺寸的限制，即使是细微的孔洞、深层的结构、狭窄的通道，光束也能轻松抵达、精准测量。

微几何特征从来不是孤立存在的。形状、位置、表面互相影响，工件的性能往往就藏在这些交互关系里。接触式系统能探测的点数受固有局限，而光学系统可以在短时间内捕获数百万个测量点，这从根本上改变了分析质量。

马路科技非接触式光学坐标测量仪，哪怕是最脆弱的微几何结构、最关键的表面功能区域，也能测得可靠、可重复。

马路科技专注光学测量的解决方案商

马路科技从1996年开始，一直在精密制造的领域一路深耕，持续拓展着光学测量的性能与应用边界。

马路科技推出的新一代旗舰级光学坐标测量仪 µCMM NEO，直指光通信接口微孔测量这一 "卡脖子" 难点。凭借高度整合的光学测量技术平台，尺寸、相对几何位置、形状与粗糙度仅需一次测试即可全部取得，完美取代多台传统测量仪器，告别重复装夹的繁琐工序和误差。

它以五轴精密驱动系统确保尺寸与位置臻至最高精度，纵然是极微小的孔洞或深层几何结构，也能提供可靠、精准的测量，是目前市场上唯一的专利解决方案。作为微米级三坐标测量系统的升级之作，µCMM NEO 在速度和精度上均有显著提升，恰好满足了这一严苛要求。

µCMM NEO 的诞生与市场挑战的精准匹配并非偶然，产品的研发逻辑很简单："我们不是先有产品再去找应用，而是先看应用市场需要什么，再去研发产品。" 正是这种以应用为导向的思路，让 Alicona 能够精准捕捉前沿产业的需求脉搏。

直面行业级难题

透光材料、高反光表面、以及光线照不到的深孔，都是光学测量的天然挑战。马路科技 Alicona 如何应对？

像种植体非常闪亮的部分，对光学并不友好，但 Alicona 在透光材料测量方面已有深入研究：Infinite Focus G6 可轻松应对高闪光表面，新一代产品 µCMM NEO 更是可以测量难度最高的透光材料。至于深小孔这一 "光照不到的地方" 的难题，Alicona 已实现径深比 1:10 的测量能力，并在各类高科技行业内积累了众多成功案例。

核心技术：Focus-Variation（变焦技术）

过去接触式系统精度高，但难以处理陡峭的侧面和敏感表面；光学系统虽然存在，但稳定性不足以满足生产环境的需求。该如何从光学图像中提取可靠的三维表面信息？

马路科技的答案是 Focus-Variation（变焦技术）—— 一种将光学系统的小焦点深度与垂直扫描相结合的方法，能从焦点变化中同时提取地形和颜色信息。这项技术用于高分辨率三维表面测量，结合了粗糙度测量仪和三坐标测量机的功能，使得测量角度大于 87° 的陡峭侧翼、具有强烈变化的反射特性以及巨大粗糙度差异的表面，都成为可能。

它因此被广泛应用于工具和模具制造、精密制造、航空航天、汽车工业、材料科学、电子及医疗设备开发等领域。

当精度成为竞争的门槛，测量就是决定下限的那一环。马路科技用近三十年的光学测量深耕，把一个个行业公认的难题，变成可验证、可重复、可依赖的测量方案。

真正的解决方案，不是追逐技术，而是读懂产业需要什么，再把光学测量做到那里去。未来，马路科技也将坚持与产业同频，让创新落地。